原裝E+H光（guāng）譜分析儀常見（jiàn）分類方法

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原裝E+H光譜分析儀常見分類方法

E+H光譜分析儀的種類（lèi）繁多，常見的分（fèn）類方法（fǎ）如下：

按工作光譜（pǔ）的區域分類：紫外-可見光（UV-VIS）光譜儀、可見光（VIS）光譜儀、紫外-可見光-近紅外（VIR）光譜儀等類型（xíng）

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原裝E+H光譜分（fèn）析儀常見分類方法

E+H光譜分析儀的種類繁（fán）多，常（cháng）見的分類方法如下：

按工作光譜的區域分類：紫外-可見光(UV-VIS)光譜儀、可見（jiàn）光(VIS)光譜儀、紫外-可見光-近紅外(VIR)光譜儀等類型

按（àn）分（fèn）光係統分類：棱鏡分光光譜儀、光柵分光光譜儀、濾色片（piàn）分光光譜儀

按光路數量（liàng）分類：單路光譜儀（yí）、多路光譜儀

按探測（cè）器分類：在可見光範圍內（nèi）主要有PMT光譜儀和（hé）CCD光（guāng）譜儀兩種，在紫外、近紅外範圍（wéi）內還有專門的探測器類型

按掃描方式分類：機械（xiè）掃描式光譜儀、快速掃描式光譜儀

按測量對象（xiàng）和測量結果的用途分（fèn）類（lèi）：分析用光譜儀、光色測量用光譜儀

在（zài）照明（míng）行業，通常使用的都是可見光光色測量光（guāng）譜儀，又細分為機械掃（sǎo）描式和陣（zhèn）列掃描式兩種

單色儀有入射和（hé）出射兩個狹縫，入射狹縫用來限製雜散光（guāng）的（de）進入，一般位於準直鏡的焦點（diǎn）上。出射狹縫用來限製光譜帶寬，一般位於物鏡的焦點（diǎn）上。狹縫通常由兩（liǎng）個具有銳利刀口的精密金（jīn）屬片構成，分為固定狹縫、單邊可調非對稱式（shì）狹縫和雙邊可調對稱狹（xiá）縫幾種。用（yòng）於光色測（cè）量的亮度計中，兩個狹縫通常設計為等寬（kuān），且不能自行調節。在用（yòng）於材料分析的亮（liàng）度計中（zhōng），狹縫往往設計成可由儀器自動調節寬度。

E+H光譜分析儀一般由分光係統、接收係統和數據處理係統組成，其工作（zuò）原理是（shì）將（jiāng）光源發出的複色光按照不同的波長分離出來，配（pèi）合各種光（guāng）電探測器件對譜（pǔ）線強度進行測量，獲得光（guāng）譜功率(輻射)分布，再計算出色（sè）品坐標、色溫、顯色指數、光通、輻（fú）射通量等光色性能（néng）參數。

原裝E+H光譜分析儀常見分類方法